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8V182512IDGGREP

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零件编号 :: 8V182512IDGGREP

制造商: Texas Instruments

描述: IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP

可用性: 389938 件

发货自: 香港仓库

预计发货日期: Nov 06 - Nov 10 2025

类型	描述
系列:	-
包裹:	Tape & Reel (TR)Cut Tape (CT)
零件状态:	Active
逻辑类型:	ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
电源电压:	2.7V ~ 3.6V
位数:	18
工作温度:	-40°C ~ 85°C
安装类型:	Surface Mount
包/箱:	64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
供应商设备包:	64-TSSOP

8V182512IDGGREP 可在 GangBo-ic.com 获得，请查看下面的产品页面以获取详细信息，包括 8V182512IDGGREP 价格、数据表、库存可用性、技术难度。快速进入比较列表的访问，查找可更换的电子零件。想要为8V182512IDGGREP 获得全面的数据以优化供应链（包括交叉引用、生命周期、参数、假冒风险、过时管理预测），请联系我们的技术支持团队。

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