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SN74ABT8543DWR

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零件编号 :: SN74ABT8543DWR

制造商: Texas Instruments

描述: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

可用性: 361036 件

发货自: 香港仓库

预计发货日期: Nov 27 - Dec 01 2024

类型	描述
系列:	74ABT
包裹:	Tape & Reel (TR)
零件状态:	Obsolete
逻辑类型:	Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
电源电压:	4.5V ~ 5.5V
位数:	8
工作温度:	-40°C ~ 85°C
安装类型:	Surface Mount
包/箱:	28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
供应商设备包:	28-SOIC

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