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SN74LVTH182512DGGR

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零件编号 :: SN74LVTH182512DGGR

制造商: Texas Instruments

描述: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP

可用性: 12280 件

发货自: 香港仓库

预计发货日期: Nov 16 - Nov 20 2024

类型	描述
系列:	74LVTH
包裹:	Tape & Reel (TR)Cut Tape (CT)
零件状态:	Active
逻辑类型:	ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
电源电压:	2.7V ~ 3.6V
位数:	18
工作温度:	-40°C ~ 85°C
安装类型:	Surface Mount
包/箱:	64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
供应商设备包:	64-TSSOP

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