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SN74ABTH18646APM

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零件编号 :: SN74ABTH18646APM

制造商: Texas Instruments

描述: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

可用性: 10160 件

发货自: 香港仓库

预计发货日期: Nov 08 - Nov 12 2025

类型	描述
系列:	74ABTH
包裹:	Tray
零件状态:	Active
逻辑类型:	Scan Test Device With Transceivers And Registers
电源电压:	4.5V ~ 5.5V
位数:	18
工作温度:	-40°C ~ 85°C
安装类型:	Surface Mount
包/箱:	64-LQFP
供应商设备包:	64-LQFP (10x10)

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