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SN74BCT8374ADWR

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零件编号 :: SN74BCT8374ADWR

制造商: Texas Instruments

描述: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

可用性: 351235 件

发货自: 香港仓库

预计发货日期: Nov 29 - Dec 03 2024

类型	描述
系列:	74BCT
包裹:	Tape & Reel (TR)
零件状态:	Obsolete
逻辑类型:	Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
电源电压:	4.5V ~ 5.5V
位数:	8
工作温度:	0°C ~ 70°C
安装类型:	Surface Mount
包/箱:	24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
供应商设备包:	24-SOIC

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